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ESD測試機 參考價:面議
芯片ESD測試設備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的生產過程中的質量保證都是...HED-N5000 全自動ESD測試系統 參考價:面議
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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來,自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前先進技術,解決自動駕駛技術的關鍵在于...ZEISS 光學微光顯微鏡 參考價:面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點:具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統。 基于“向前看"理念的升級設計。掃描電鏡 參考價:面議
掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產品將場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。半導體場發(fā)射掃描電鏡 參考價:面議
GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒,創(chuàng)下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節(jié)引擎是為方便您...半導體光學/共聚焦顯微鏡 參考價:面議
半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。德國進口晶圓光學檢測設備 參考價:面議
德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。芯片封裝焊接強度測試儀 參考價:面議
芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業(yè)經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。HANWA ESD測試全部設備簡介 參考價:面議
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CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備HED-W5000M 晶圓ESD測試機 參考價:面議
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ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備 參考價:面議
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